Mesure des permittivités complexes dans la bande des 10 000 MHz par une méthode en cavité résonnante

Abstract
The author desoribes a procedure for measuring complex dielectric constants in the 10 000 Mc/s band, making use of perturbation method. This procedure from the methods previously described on the following points : 1) Compensation of the perturbation of the resonance frequency of the cavity by introduction of a sample to be measured, is obtained by introducing a dielectric reference sample (but not by distortion of the cavity). 2) When this compensation is made, whe restore the variation of reflected power which after calibration, enables ε" to be determined directly without making use of the coefficient of over-voltage. The calculations are easy and rapid. The precision is about 1/100 for both ε' and ε".

Résumé
L'auteur expose un procédé de mesure des constantes diélectriques complexes (dans la bande des 3 cm) utilisant la méthode des perturbations. Ce procédé diffère des méthodes précédemment décrites sur les points suivants : 1° La compensation de la perturbation de fréquence de résonance de la cavité par l'introduction de l'échantillon à mesurer est réalisée par introduction d'un échantillon diélectrique de référence (et non par une déformation de la cavité). 2° De plus, cette compensation étant faite, on repère à ce moment la variation de puissance réfléchie par la cavité, qui permet après étalonnage de déterminer directement ε", sans passer explicitement par le coefficient de surtension. Les calculs sont simples et rapides. La précision est de l'ordre de quelques 1/100 aussi bien pour ε' que pour ε".