L'électronique en photoextensométrie statique et dynamique

Abstract
After a short reminding on the use of photoextensometric coatings, the author describes and discusses the measuring method of the double refraction based on the utilization of a multiplier phototube as a detector for the polarizing microscope fitted with a monochromatic circularly polarized light. This method is based on a non-linear characteristic and furthermore makes necessary a rigourous stabilization of the microscope illuminator and of the photomultiplier supply. The author suggests a new measuring method using a rotating analyzer by which those instability causes are eliminated. The dynamic and static field can be investigated with this apparatus ; in the dynamic field the method is only limited by the rotation speed of the analyzer. The author, with this new measuring method, could reveal the relaxation phenomenon which exists in the double refraction of the coating and define the answer of the coating in the dynamic field.

Résumé
Après un bref rappel de principe d'utilisation des revêtements photoextensométriques, l'auteur expose et discute la méthode de mesure de la biréfringence basée sur l'utilisation d'un photomultiplicateur associé à un microscope polarisant équipé en lumière monochromatique circulaire. Cette méthode étant basée sur une caractéristique non linéaire et exigeant d'autre part une stabilisation rigoureuse de l'illuminateur du microscope et de l'alimentation du photomultiplicateur, il est proposé une nouvelle méthode de mesure basée sur l'emploi d'un analyseur tournant et où n'interviennent plus les causes d'instabilité citées plus haut. L'appareillage de mesure est utilisable dans le domaine statique ainsi que dans le domaine dynamique où la méthode n'est limitée que par la vitesse de rotation de l'analyseur. Cette réalisation a permis de mettre en lumière le phénomène de relaxation que présente la biréfringence du revêtement et de préciser la réponse de ce dernier en régime dynamique.