Numéro
J. Phys. Phys. Appl.
Volume 23, Numéro S3, mars 1962
Page(s) 15 - 20
DOI https://doi.org/10.1051/jphysap:0196200230301500
J. Phys. Phys. Appl. 23, 15-20 (1962)
DOI: 10.1051/jphysap:0196200230301500

Appareillages de mesure de la conductivité thermique des semi-conducteurs - I. généralités ; Méthode des fluxmètres

G. Weill

Laboratoire de Magnétisme et de Physique du Solide, C. N. R. S., Bellevue (Seine-et-Oise)


Abstract
The apparatus described is used to measure the room temperature thermal conductivity of small samples of semi-conductor materials. The sample under test plays the role of a differential thermocouple, so that errors due to stray thermal resistances are eliminated. The apparatus is operated with very small temperature gradients, in order to minimize radiation losses. These may be evaluated experimentally. A calibration method is described so that absolute measurements of thermal conductivity can be performed.


Résumé
L'appareillage décrit permet des mesures rapides de la conductivité thermique, à la température ordinaire, de petits échantillons de matériau semi-conducteur. L'éprouvette en expérience joue le rôle de thermomètre différentiel, cette disposition élimine l'effet parasite des résistances thermiques de contact. Les gradients de température sont maintenus très faibles, de manière à réduire les pertes de chaleur. La méthode permet une évaluation expérimentale de ces pertes. L'appareil peut être étalonné de manière à donner des valeurs absolues.

PACS
0720 - Thermal instruments and apparatus.

Key words
Measurement systems -- Thermal conductivity measurement -- Semiconductor materials -- Instrumentation -- Fluxmeters -- Calibration