Étude de la résonance ferromagnétique dans les matériaux conducteurs (bande X : f = 10 000 MHz) mesures d'échantillons monocristallins de ferro-silicium

Abstract
An X-band microwave apparatus for the measurement of ferromagnetic resonance of conducting ferromagnetics has been developed. This apparatus - together with a magnetic torsion balance - is especially adapted for investigations on samples with an oriented crystal structure. It was used for measuring two silicon-iron crystals (1.8 % of Si), in the form of thin disks. The first crystal has a surface parallel to a (001) plane, the second one a surface parallel to a (112) plane. After a theoretical part, experimental results are given and discussed (measurements of anisotropy constant K1, anisotropy torque dW/dθ, resonance field Hz,res, and apparent permeability as a function of Hz and of the orientation θ). Some essential details of the equipment used are described.

Résumé
Un appareillage destiné à l'étude de la résonance ferromagnétique dans les matériaux conducteurs a été réalisé, pour la bande X (f= 10 000 MHz). Ce montage - complété par une balance magnétique - est particulièrement approprié à des mesures sur des échantillons à structure orientée. Il a servi à étudier deux monocristaux de ferro-silicium (1,8 % de Si) présentés sous forme de disques minces, dont la surface soumise à l'onde UHF correspondait, pour le premier échantillon au plan (001) et pour le deuxième au plan (112). Après une partie théorique, des résultats de mesures sont présentés et discutés (mesure de la constante d'anisotropie K1, du couple d'anisotropie dW/dθ, du champ de résonance Hz,res, de la perméabilité apparente en fonction de Hz et de l'orientation de θ). Les détails essentiels de l'appareillage de mesure utilisé sont indiqués.