Numéro |
J. Phys. Phys. Appl.
Volume 20, Numéro S7, juillet 1959
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Page(s) | 55 - 59 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphysap:0195900200705500 |
DOI: 10.1051/jphysap:0195900200705500
Caractéristiques de fonctionnement des sources d'ions à excitation H. F. Emploi d'un diaphragme à l'intérieur de leur canal d'extraction.
Daniel Blanc et André DegeilhService de Spéctroscopie de masses, Laboratoire d'Optique Électronique du C. N. R. S., Toulouse
Abstract
An H. F. excited source, producing a positive argon ion beam is described, and we give its operational features, with and without a diaphragm inside its extracting channel. If we introduce a diaphragm of one mm diameter when the argon pressure is 15 microns of Hg in the ionization chamber, gas consumption will be reduced in a proportion of 4,24 ; however, the source will produce an ion beam 60 % of that obtained without a diaphragm. Optimum operating conditions are established for the same pressure ; they correspond to an extracting voltage of about 5 000 volts. The value of the current obtained is a function of gas pressure in the source ; the current has a maximum for a 6 microns of Hg pressure without a diaphragm, and for a 8 microns of Hg pressure with a diaphragm.
Résumé
On décrit une source à excitation H. F. produisant des ions positifs d'argon, et l'on donne ses caractéristiques de fonctionnement, avec et sans diaphragme à l'intérieur de son canal d'extraction. Lorsque la pression de l'argon est de 15 microns de mercure dans la chambre d'ionisation, l'introduction d'un diaphragme de 1 mm de diamètre diminue la consommation de gaz dans un rapport de 4,24 ; par contre, le débit ionique reste égal à 60 % de celui recueilli en l'absence de diaphragme. Les conditions de fonctionnement optima ont été déterminées, pour cette même pression : elles correspondent à une valeur de la tension d'extraction de l'ordre de 5 000 volts. La valeur du courant recueilli est fonction de la pression du gaz dans la source : ce courant est maximum pour une pression de 6 microns de Hg sans diaphragme, de 8 microns de Hg avec diaphragme.
4175 - Charged-particle beams.
2925N - Ion sources: positive and negative.
0777K - Charged-particle beam sources and detectors.
Key words
ion beams -- ion sources