Numéro
J. Phys. Phys. Appl.
Volume 19, Numéro S12, décembre 1958
Page(s) 133 - 139
DOI https://doi.org/10.1051/jphysap:019580019012013300
J. Phys. Phys. Appl. 19, 133-139 (1958)
DOI: 10.1051/jphysap:019580019012013300

Dispositif d'étude de polarisation par diffraction des ondes électromagnétiques centimétriques

A. Mevel et J. Mevel

Faculté des Sciences de Rennes


Abstract
A semi-automatic apparatus for measuring polarization of scattered waves in free space was constructed. It is a rotating analyser which permits détermination of polarization ellipses by means of an oscillograph. We compute the curves corresponding to various values of ellipticity, then we show the block diagram of the apparatus. We describe in detail the various original components of the system and give a sample of the oscillographic patterns obtained.


Résumé
Les auteurs ont construit un appareil semi-automatique qui permet de déterminer l'état de polarisation d'une onde diffractée se propageant dans l'espace libre. Le principe est celui de l'analyseur tournant, la détermination des axes de l'ellipse de polarisation s'effectue à l'aide d'une présentation oscillographique. Après avoir calculé la forme des courbes correspondant aux diverses valeurs de l'ellipticité, on indique le schéma de fonctionnement de l'appareil, puis on. décrit, avec plus de détails, les divers éléments originaux qui le constituent. On présente enfin un enregistrement d'oscillogramme obtenu à l'aide de ce dispositif.

PACS
4225J - Polarization.
4225F - Diffraction and scattering.

Key words
Polarization analyzer -- Optical polarization -- Electromagnetic wave diffraction -- Centimeter wave radiation -- Instrumentation