| Numéro |
J. Phys. Phys. Appl.
Volume 13, Numéro S7-9, juillet-août-septembre 1952
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| Page(s) | 135 - 136 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphysap:01952001307-9013500 | |
J. Phys. Phys. Appl. 13, 135-136 (1952)
DOI: 10.1051/jphysap:01952001307-9013500
Laboratoire d'optique électronique, Université de Lyon
0778 - Electron, positron, and ion microscopes; electron diffractometers.
6837 - Microscopy of surfaces, interfaces, and thin films.
Key words
crystal structure -- electron diffraction crystallography -- electron microscopy
DOI: 10.1051/jphysap:01952001307-9013500
Franges électroniques possédant un centre de symétrie
E. PernouxLaboratoire d'optique électronique, Université de Lyon
Résumé
Un nouveau type de franges a été observé sur les images au microscope électronique de cristaux minces (Pb I2, MoO8). Les franges en question sont centrées sur un point du cristal et leur symétrie 4 ou 6 dépend de celle du cristal. En associant convenablement l'image et la diffraction électroniques, on peut déterminer l'orientation de ces franges par rapport au réseau cristallin.
0778 - Electron, positron, and ion microscopes; electron diffractometers.
6837 - Microscopy of surfaces, interfaces, and thin films.
Key words
crystal structure -- electron diffraction crystallography -- electron microscopy