| Numéro |
J. Phys. Phys. Appl.
Volume 19, Numéro S12, décembre 1958
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | 181 - 182 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphysap:019580019012018100 | |
J. Phys. Phys. Appl. 19, 181-182 (1958)
DOI: 10.1051/jphysap:019580019012018100
PACS
6837 - Microscopy of surfaces, interfaces, and thin films.
Key words
crystal faces -- silicon compounds
DOI: 10.1051/jphysap:019580019012018100
Remarques sur l'observation au microscope des très faibles dénivellations de surface
Adrienne R. WeillWithout abstract
PACS
6837 - Microscopy of surfaces, interfaces, and thin films.
Key words
crystal faces -- silicon compounds
Première page de l'article
