Issue
J. Phys. Phys. Appl.
Volume 19, Number S12, décembre 1958
Page(s) 181 - 182
DOI https://doi.org/10.1051/jphysap:019580019012018100
J. Phys. Phys. Appl. 19, 181-182 (1958)
DOI: 10.1051/jphysap:019580019012018100

Remarques sur l'observation au microscope des très faibles dénivellations de surface

Adrienne R. Weill

Without abstract


PACS
6837 - Microscopy of surfaces, interfaces, and thin films.

Key words
crystal faces -- silicon compounds

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