Numéro
J. Phys. Phys. Appl.
Volume 12, Numéro S8, octobre 1951
Page(s) 25 - 31
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jphysap:0195100120802501
J. Phys. Phys. Appl. 12, 25-31 (1951)
DOI: 10.1051/jphysap:0195100120802501

Étude des lentilles faibles électrostatiques : la deuxième approximation

F. Bertein


Résumé
On reprend une étude des lentilles faibles électrostatiques [1] en adoptant une approximation d'ordre supérieur; on obtient une formule fournissant ici encore la déviation δ qui caractérise la réfraction imprimée aux rayons par la lentille. Cette formule s'applique tout particulièrement aux lentilles à deux dimensions ou à symétrie axiale, aux fentes et aux ouvertures circulaires, par exemple, dont elle permet de calculer les aberrations d'ouverture pour les faisceaux larges.

PACS
0781 - Electron and ion spectrometers.

Key words
electron lenses -- electrostatic lenses