Equipment for measuring the thermal conductivity of semiconductors. II. a ngstrom method.
Appareillages de mesure de la conductivité thermique des semi-conducteurs II. La méthode d'Angström
et
J. Phys. Phys. Appl., 23 S6 (1962) 95-101
DOI: 10.1051/jphysap:0196200230609500