Determination of the impurity doping profile of a transistor from measurements of certain electrical characteristics.
Détermination du profil de dopage en impuretés d'un transistor à partir des mesures de certaines de ses caractéristiques électriques
J. Phys. Phys. Appl., 22 S2 (1961) 59-63
DOI: 10.1051/jphysap:0196100220205900