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Article cité :

Equipment for measuring the thermal conductivity of semiconductors. II. a ngstrom method.
Appareillages de mesure de la conductivité thermique des semi-conducteurs II. La méthode d'Angström

J. Gatecel, G. Weill

J. Phys. Phys. Appl., 23 S6 (1962) 95-101

DOI: https://doi.org/10.1051/jphysap:0196200230609500

Citations de cet article :

On-line local thermal pulse analysis sensor to monitor fouling and cleaning: Application to dairy product pasteurisation with an ohmic cell jet heater

J. Crattelet, S. Ghnimi, P. Debreyne, et al.
Journal of Food Engineering 119 (1) 72 (2013)
https://doi.org/10.1016/j.jfoodeng.2013.05.009

Thermophysical Properties Research Literature Retrieval Guide 1900–1980

J. F. Chaney, V. Ramdas, C. R. Rodriguez and M. H. Wu
Thermophysical Properties Research Literature Retrieval Guide 1900–1980 433 (1982)
https://doi.org/10.1007/978-1-4757-1487-6_3