Numéro
J. Phys. Phys. Appl.
Volume 13, Numéro S2, février 1952
Page(s) 59 - 64
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jphysap:0195200130205900
J. Phys. Phys. Appl. 13, 59-64 (1952)
DOI: 10.1051/jphysap:0195200130205900

Localisation précise d'un maximum ou d'un minimum de transmission en fonction de la longueur d'onde. Application a la préparation des couches minces

Pierre Giacomo et Pierre Jacquinot

Laboratoire Aimé Cotton, C. N. R. S., Bellevue


Résumé
Au moyen d'un miroir vibrant, on produit une petite variation périodique δλ, de fréquence N, de la longueur d'onde λ envoyée sur l'objet à étudier. Le flux transmis (ou réfléchi) est reçu sur une cellule dont le courant est amplifié en courant alternatif. L'annulation (et l'inversion) de la composante de fréquence N de ce courant se produit pour les longueurs d'onde pour lesquelles la transmission (ou réflexion) pàsse par un maximum ou un minimum. L'annulation de la composante de fréquence 2 N a lieu pour les points d'inflexion. La méthode, qui peut être sensible, permet l'étude très rapide des filtres (position et largeur de la bande passante). On indique dans quel cas la sélectivité propre de l'appareil peut être gênante et comment on peut y remédier. La méthode permet, en outre, de régler exactement à un multiple de λ/4 l'épaisseur optique d'une couche diélectrique pendant sa préparation.

PACS
4279W - Optical coatings.
0760 - Optical instruments and equipment.

Key words
optical films -- thickness measurement